粗糙度測量 / 激光顯微鏡

僅需在設(shè)置好樣品后單擊即可自動測量的激光顯微鏡。具有1臺即可覆蓋光學顯微鏡到SEM領(lǐng)域的觀察力、瞬間準確掃描各種目標物形狀的測量力、豐富的分析工具等特點，可滿足觀察、測量、分析等各種需求。

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產(chǎn)品陣容

VK-X3000 系列 - 形狀測量激光顯微系統(tǒng)

采用了三重掃描方式，運用激光共聚焦、白光干涉、聚焦變化等三種不同的掃描原理，高倍率和低倍率，平面、凹凸表面的細微粗糙度，以及鏡面體，透明體等。VK擁有應(yīng)對多種樣品的測量能力（從 1 nm 到 50 mm），納米/微米/毫米一臺完成測量。

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